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QT-TS2100 高速太赫兹时域光谱系统系统技术指标频谱测试图

QT-TS2100 高速太赫兹时域光谱系统
产品简述:

高速太赫兹时域光谱系统(QT-TS2100)是基于全光纤器件设计的小型化、集成化的系统,具有体积小、功耗低、稳定性高、成谱速率高等特点,系统最高光谱扫描速率可达120Hz,已达到国内领先水平。

▲ 高速太赫兹时域光谱系统 - 上位机软件操作界面

 

高速太赫兹时域光谱系统由系统主机、外接光路和应用端模块组成,用户可根据应用需求灵活搭建测试系统,实现对被测物质的透、反射式及ATR测量。系统主机留有防呆设计的光电导天线接口和丰富的编码器接口,便于系统功能拓展;搭载自研的二维扫描平移台时,即可拓展成为太赫兹三维层析成像系统

▲ 室内环境参考信号 - 动态范围80dB

 

高速太赫兹时域光谱系统采用全光纤设计,内部搭载青源峰达自主研发的高速双向扫描延迟线模块,最高扫描频率可达120Hz,最长扫描长度可达120ps@50Hz,动态范围80dB。在更高的扫描频率下可以在更短的时间内完成太赫兹光谱测量及成像,不仅适用于环境稳定性要求高的测试场景,而且缩短了测试时间减少氮气消耗。

 

高速太赫兹时域光谱系统快速的太赫兹光谱分析、图谱识别,可被广泛应用于光谱分析、安全检测、医学制药、航空航天、非金属无损检测等领域。

 

产品特点:

· 基于自研快速延迟线系统,120Hz光谱扫描速率;

· 接口防呆设计,保障光电导天线的安全使用;

· 0.1-4THz系统宽带;

· 光谱分辨率低至8GHz;

· 超过80dB动态范围;

· 支持透射和反射式光谱测量模式;

· 搭载自研二维平移台,可实现太赫兹成像功能; 

· 更加人性智能和灵活扩展的上位机软件系统。

 

太赫兹时域光谱:中国工程物理研究院--青源峰达全光纤太赫兹时域光谱系统(THz-TDS)

专业提供太赫兹时域光谱透射、反射测试系统,科学研究、图谱合一,光谱分析、层析成像、速度快,测试环境多样,全光纤设计、支持数据二次开发、软件定制

太赫兹成像:太赫兹相机,太赫兹三维层析成像,中国工程物理研究院技术,全光纤系统设计,透射式、反射式、ATR模组,无损检测,图谱合一

太赫兹无损检测:中国工程物理研究院技术,全光纤系统设计,无损检测、绝缘材料检测、超材料检测、内部缺陷三维成像、涂层测厚、食品安全鉴定分析、危化品分析。

太赫兹光谱:太赫兹时域光谱系统(THz-TDS)定制化搭建,升级改造,提供核心及周边部件,中国工程物理研究院技术,二位扫描平台,手动、电动透反射平台,太赫兹样品仓,快速光纤延迟线,太赫兹镜头。

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产品参数:
频带宽度  
频谱分辨率  
动态范围  
时域扫描长度  
时域延迟精度  
工作模式  
扫描速率  
光路传输类型  
工作电源  
对外接口  
设备尺寸  
设备质量  
主要应用场景  
产品特点:
穿透性:  
安全性:  
频谱分辨率高:  
定性与定量测量:  
识别准确率高:  
瞬态性:  
无损检测:  
抗干扰能力强:  
方便携带:  
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销售客服

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