正入射太赫兹集成探头可集成太赫兹发射/探测天线及太赫兹透镜，避免人工调节光路的繁琐，提高了光路的稳定性，在探测反射光谱时可消除多次反射所造成的影响，搭配专用二维扫描平台或机械臂，可对复杂曲面样件进行探测。可用于反射光谱分析、涂层无损层析成像探测等。
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正入射太赫兹集成探头可集成太赫兹发射/探测天线及太赫兹透镜，避免人工调节光路的繁琐，提高了光路的稳定性，在探测反射光谱时可消除多次反射所造成的影响，搭配专用二维扫描平台或机械臂，可对复杂曲面样件进行探测。可用于反射光谱分析、涂层无损层析成像探测等。
